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粒度及Zeta電位測量
Omni(新產品)
90Plus PALS
90Plus Zeta
納米粒度分析儀
173Plus多角度粒度測試儀
90Plus納米/亞微米激光粒度儀
TurboCorr數字相關器(等電點測試儀)
BI-DCP圓盤式離心/沉降粒度儀
Zeta電位測量
Zeta電位儀-ZetaPALS高靈敏度
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分子量檢測器
BI-MwA多角度激光散射儀
BI-DNDC示差折射儀(dndc測試儀)
粘度/示差檢測器
· Omni多角度粒度及高靈敏度Zeta電位分析儀
產品簡介: Omni多角度粒度與高靈敏度Zeta電位分析儀結合了背向光散射技術與傳統動態光散射技術以及硬件PALS(Phase Analysis Scattering,相位分析光散射)技術,擁有15°、90°與173°三個散射角度,突破了傳統單角度光散射儀測量的局限性,硬件PALS技術解決了低電泳遷移率體系Zeta電位的精確測量,是一
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